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    2010年9月——NI近日推出了NI PXIe-5630 6 GHz雙端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA），這是自動(dòng)化測(cè)試行業(yè)首臺(tái)基于PXI總線的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。借助全新的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可對(duì)前向參數(shù)和反向參數(shù)(T/R)進(jìn)行全面的矢量分析。此外，該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還提供精密自動(dòng)校準(zhǔn)功能，并且基于靈活的軟件定義架構(gòu)，非常適用于自動(dòng)化設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試。該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀基于PXI模塊化架構(gòu)，只需占據(jù)兩個(gè)PXI槽位，使測(cè)試工程師可以在有限空間中將矢量網(wǎng)絡(luò)分析整合進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)，而無(wú)需增加額外成本或使用體積較大的傳統(tǒng)臺(tái)式儀器。

    “6 GHz 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀表明了我們?cè)谔峁┥漕l解決方案方面的持續(xù)投入，致力于幫助工程師在提高測(cè)試精度和吞吐量的同時(shí)降低成本、系統(tǒng)體積和復(fù)雜性，” NI 研發(fā)部高級(jí)副總裁Phil Hester說(shuō)。“對(duì)于成功地將VNA添加到我們業(yè)已強(qiáng)大的PXI模塊化儀器的射頻系列產(chǎn)品中，我們感到很驕傲。”

    NI PXIe-5630針對(duì)自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用進(jìn)行了設(shè)計(jì)優(yōu)化，并提供一些成熟的功能，包括：自動(dòng)精密校準(zhǔn)、雙端口均可進(jìn)行完整矢量分析、參考面延展附件、以及可用于并行測(cè)試的靈活的LabVIEW API。NI PXIe-5630還具有優(yōu)良的性能指標(biāo)，包括10 MHz到6 GHz的頻率范圍、超過(guò)110 dB的動(dòng)態(tài)范圍、以及低于400 微秒/頻點(diǎn)的掃描速度（可連續(xù)掃描3201個(gè)頻點(diǎn)）。此外，由于基于模塊化的PXI平臺(tái)，工程師可將多達(dá)八個(gè)NI PXIe-5630模塊整合在一個(gè)PXI機(jī)箱中，并以真實(shí)并行的方式進(jìn)行多點(diǎn)射頻測(cè)試。

    工程師無(wú)需編程便可用附帶的全功能軟面板交互式地控制NI PXIe-5630，或在NI LabVIEW軟件和NI LabWindows™/CVI ANSI C開(kāi)發(fā)環(huán)境中使用直觀的API通過(guò)編程進(jìn)行控制。兩種API都針對(duì)多核處理進(jìn)行了優(yōu)化，以完成多個(gè)RF組件的并行測(cè)試。相比通過(guò)開(kāi)關(guān)切換進(jìn)行串行測(cè)試，這種并行測(cè)試方式具有明顯的測(cè)試吞吐量?jī)?yōu)勢(shì)。

    NI PXIe-5630還進(jìn)一步擴(kuò)展了用于自動(dòng)化測(cè)試的PXI模塊化儀器系列產(chǎn)品。基于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的PXI規(guī)范，該款矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可與包括NI在內(nèi)的70多家供應(yīng)商的1500多種PXI儀器集成，滿足幾乎任何測(cè)試應(yīng)用需求。